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Physikalische Modellierung mikrospektroskopischer Messungen zur Charakterisierung von optischen Schichtsystemen
Internally funded project
Start date :
01.05.2021
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Analyse und Modellierung mikrospektrometrischer Messungen an Dünnschichtsystemen unter Einsatz von Polarisationsoptiken (2024)
Ghazal R
Thesis
Correlating Optical Microspectroscopy with 4×4 Transfer Matrix Modeling for Characterizing Birefringent Van der Waals Materials (2023)
Schwarz J, Niebauer M, Kolesnik-Gray M, Szabo M, Baier L, Chava P, Erbe A, et al.
Journal article
Systemübergreifende modulare Charakterisierung von Dünnschichtsystemen mittels Reflexionsmessungen (2023)
Pham A
Thesis
Optimierung und Charakterisierung von 2D-Materialien für die Passivierung von schwarzem Phosphor (2022)
Szabo M
Thesis