Schubert E, Rosiwal S, Bergmann HW (1989)
Publication Language: German
Publication Type: Journal article
Publication year: 1989
Book Volume: 5
Pages Range: 334-343
Journal Issue: 3
APA:
Schubert, E., Rosiwal, S., & Bergmann, H.W. (1989). Möglichkeiten der Differenzreflektometrie bei der Entwicklung einer optischen on-line Qualitätskontrolle für die Materialbearbeitung mit dem Excimerlaser. Opto-Elektronik-Magazin, 5(3), 334-343.
MLA:
Schubert, Emil, Stefan Rosiwal, and Hans Wilhelm Bergmann. "Möglichkeiten der Differenzreflektometrie bei der Entwicklung einer optischen on-line Qualitätskontrolle für die Materialbearbeitung mit dem Excimerlaser." Opto-Elektronik-Magazin 5.3 (1989): 334-343.
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