A Novel BIST Technique for SNR DAC Testing.

Li H, Eckmüller J, Sattler S, Eichfeld H, Weigel R (2003)

Publication Type: Conference contribution

Publication year: 2003

Publisher: ITG/ GI/ GMM

Pages Range: 125-130

Conference Proceedings Title: Workshop Entwurf Integrierter Schaltungen und Systeme

Event location: Erlangen, Germany

ISBN: 978-3-8007-2760-5

Authors with CRIS profile

Sebastian Sattler Lehrstuhl für Zuverlässige Schaltungen und Systeme Robert Weigel Lehrstuhl für Technische Elektronik

How to cite

APA:

Li, H., Eckmüller, J., Sattler, S., Eichfeld, H., & Weigel, R. (2003). A Novel BIST Technique for SNR DAC Testing. In Workshop Entwurf Integrierter Schaltungen und Systeme (pp. 125-130). Erlangen, Germany: ITG/ GI/ GMM.

MLA:

Li, Hongzhi, et al. "A Novel BIST Technique for SNR DAC Testing." Proceedings of the Workshop Entwurf Integrierter Schaltungen und Systeme, Erlangen, Germany ITG/ GI/ GMM, 2003. 125-130.

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