Selbstteststrategien für Mikrowellen-Interferometrie zur hoch-genauen industriellen Abstandsmessung

Kölpin A, Mann S, Lindner S, Linz S, Barbon F, Weigel R (2014)

Publication Type: Conference contribution, Abstract of lecture

Publication year: 2014

Event location: Bad Staffelstein

Authors with CRIS profile

Alexander Kölpin Lehrstuhl für Technische Elektronik Sebastian Mann Lehrstuhl für Technische Elektronik Stefan Lindner Lehrstuhl für Technische Elektronik Sarah Linz Lehrstuhl für Technische Elektronik Francesco Barbon Lehrstuhl für Technische Elektronik Robert Weigel Lehrstuhl für Technische Elektronik

How to cite

APA:

Kölpin, A., Mann, S., Lindner, S., Linz, S., Barbon, F., & Weigel, R. (2014, February). Selbstteststrategien für Mikrowellen-Interferometrie zur hoch-genauen industriellen Abstandsmessung. Paper presentation at Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Bad Staffelstein.

MLA:

Kölpin, Alexander, et al. "Selbstteststrategien für Mikrowellen-Interferometrie zur hoch-genauen industriellen Abstandsmessung." Presented at Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ), Bad Staffelstein 2014.

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