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Hochgenaue Positionsmessung mit Hilfe von Mikrowellen-Interferometrie und unter Verwendung einer modifizierten Fin-Line-Struktur als Wegaufnehmer
Patents
Elektrisches Messsystem
DE102013202765
Electrical measuring system
US 2014-0232417 A1
Electrical measuring system
CN103994738A
Inventor / co-inventor
Sebastian Mann
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Alexander Kölpin
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Gabor Vinci
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Stefan Lindner
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Francesco Barbon
Lehrstuhl für Technische Elektronik